X射线凸度仪中散射信号的物理模型与解析计算研究
作者: 文贤飞 ; 尹在哲 ; 苗积臣
摘要:在各种凸度检测技术中,射线法能够适应恶劣的生产环境、测量精度高等一些优点使它成为研究的主流方向[1]。散射是影响射线法凸度检测精度的一个重要因素,关于散射的研究是该技术研发的重要环节,也是研究的难点[1]。通过建立物理模型,使用解析法进行散射校正,与Monte Carlo模拟结果对比,得到了理想的结果。
关键字: 凸度仪 散射 物理模型 解析法 蒙特卡洛方法
作者: 文贤飞 ; 尹在哲 ; 苗积臣
摘要:在各种凸度检测技术中,射线法能够适应恶劣的生产环境、测量精度高等一些优点使它成为研究的主流方向[1]。散射是影响射线法凸度检测精度的一个重要因素,关于散射的研究是该技术研发的重要环节,也是研究的难点[1]。通过建立物理模型,使用解析法进行散射校正,与Monte Carlo模拟结果对比,得到了理想的结果。
关键字: 凸度仪 散射 物理模型 解析法 蒙特卡洛方法