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FP法在SDD—EDXRF无标样分析技术中的应用研究
作者： 刘敏 [1,2] ; 庹先国 [1] ; 李哲 [1] ; 石睿 [1]
摘要：为实现能量色散x荧光（EDXRF）技术对元素含量的无标样分析，建立了基本参数法（FP法）数理分析模型，并计算得到了模型中质量吸收系数（斗）、激发因子（E）等关键参数。实验中，利用基于硅漂移探测器（SDD）的EDXRF测量系统（SDD—EDXRF），对Fe—cu、Fe—n两种伪二元体系样品进行能谱测量，并采用自行开发的FP法计算程序，分析得到了混合样品中各元素含量，含量的计算值与实际值的最低相对误差小于2％，精密度相对标准偏差低于0．8％。结果表明，所建立的FP法分析模型，能较好克服元素间的吸收增强效应，可应用于SDD—EDXRF的无标样分析过程。
关键字： 能量色散x荧光分析 基本参数法 硅漂移探测器 伪二元系