4H—SiC肖特基二极管α探测器研究
作者: 陈雨 [1] ; 范晓强 [2,3] ; 蒋勇 [2,3] ; 吴健 [2,3] ; 白立新 [1] ; 柏松 [4] ; 陈刚 [4] ; 李理 [4]
摘要:碳化硅(SiC)是一种具有优良物理性能的宽禁带半导体材料,可作为探测器的优良探测介质。用241Am源5.486MeV的α粒子研究4H—SiC肖特基二极管α探测器的能量分辨率和信号相对上升时间等特性。在真空室中,使SiC探测器暴露在仪粒子下,SiC探测器输出良好的响应信号。SiC二极管对5.486MeVα粒子的能量分辨率最佳可达3.4%;经前置放大器FH1047输出和示波器观测,脉冲幅度随偏压增加而稳定在(35.39±0.21)mV;脉冲上升时间随偏压增加而稳定在(137.87±9.44)ns。4H—SiC肖特基二极管对α粒子响应良好,可用于α粒子强度测量。结合SiC耐辐照、耐高温等特性,进一步改进后有望制成分辨率更高、上升时间更快、耐辐照的新型α探测器和中子探测器。
关键字: α探测器 肖特基二极管 4H—SiC