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2、计量单位 采用国家法定计量单...
HPGe探测器体源效率面源模拟刻度技术
作者： 田自宁 [1,2] ; 欧阳晓平 [1,2] ; 冯天成 [2] ; 雷震 [2] ; 李安 [2] ; 周腾飞 [2]
摘要：使用面源模拟刻度体源不同高度处薄层的探测效率，随高度积分获得了妒5mm×25mm州Am体源及气态私。Am源的探测效率，模拟刻度结果和LabSOCS计算值的偏差在±7％以内。同理，使用LabSOCS无源效率刻度技术进行面源分层刻度计算，并随高度积分获得＋75mm×25mm尺寸^133Xe气体源和啪Cs液体源探测效率，模拟刻度结果和LabSOCS计算值的偏差在±l％以内。实验和理论计算证明面源模拟刻度技术是有效可行的。相对体源刻度技术，面源刻度可以省去样品源制作及运输，大大提高工作效率。
关键字： 面源 LabSOCS 效率刻度