高强度短寿命核素对其它峰计数率和半衰期影响的研究
作者: 秦建国 [1] ; 赖财锋 [1] ; 张信威 [2] ; 蒋励 [1]
摘要:利用HPGe探测器及DSPECPIus谱仪的活时间校准模式(LTC)和零死时间校准模式(ZDT),对含有高强度短寿命核素的混合样品作了测量。结果表明:在计数率急剧变化的情况下,LTC方法测得的峰计数经修正以后仍然存在计数丢失;与ZDT模式的数据相比,初始阶段数据丢失率约2.O%~3.8%。这部分不能正确修正的计数对短寿命核素的半衰期几乎没有影响,但是对半衰期相对较长的核素有一定的影响,实验中,LTC和ZDT两种模式下24Na的半衰期相差了2.56%。
关键字: 短寿命核素 死时间 活时间校准模式 零死时间校准模式 计数率 半衰期
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