HPGe-γ谱仪系统的死时间校正
作者: 王强 ; 方开洪 ; 周钰珊 ; 周小娇
摘要:讨论了HPGe-γ能谱仪死时间产生的原因、表示方法,以及对HPGe-γ谱仪系统死时间的校正方法。采用强源干扰法找到了HPGe-γ谱仪系统百分死时间与计数率丢失修正因子的关系,给出了HPGe-γ谱仪系统死时间修正因子的计算公式。得到:应用实际测得的修正因子来反推百分死时间,发现系统标定的百分死时间与实际测得的百分死时间符合较好,验证了系统标定死时间的正确性;扩展了γ谱仪对大计数率的测量范围,将百分死时间扩大至25%;修正因子随系统百分死时间的变化率不随粒子能量变化,可以在全能量范围内应用同一修正公式对测得的γ射线的计数率进行修正。
关键字: HPGe-γ能谱仪 死时间 修正因子
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