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双极型器件的总剂量辐射效应与损伤机理
作者： 张婷 [1,2] ; 刘远 [2,3] ; 李斌 [1] ; 恩云飞 [2] ; 何玉娟 [2] ; 杨元政 [3]
摘要：随着空间技术的发展，双极型器件和线性电路被广泛应用于辐射环境。从钝化层辐射损伤机理出发，介绍辐射诱生钝化层固定电荷与界面态的产生机理与计算模型，结合基极电流模型探讨双极型器件与电路的总剂量辐射效应，并针对双极型器件的低剂量率辐射损伤机理与模型展开讨论。
关键字： 双极型器件 总剂量辐射效应 低剂量率