多次全反射X射线荧光分析装置研制
作者: 乔亚华 [1] ; 康海英 [2] ; 陈海英 [1] ; 黄清良 [2]
摘要:文章报道了自行研制的多次全反射X射线荧光分析装置,着重介绍了分析装置光路系统的设计、组件、调试以及能谱分析系统,并对装置的性能测试结果进行了分析。实验结果表明,该装置的探测下限可达0.1 ng,样品分析的RSD为5%~16%,利用该装置对某核设施周边的大气样品进行了分析,结果令人满意。
关键字: 多次全反射 荧光仪 分析 装置研制
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