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平面型碲锌镉(CZT)室温探测器的噪声和性能

作者: 徐慧超 [1,2] ; 龚培荣 [2]

摘要:CdZnTe(CZT)探测器是近年来迅速发展的新型半导体探测器,具有体积小、分辨率高、可在室温下工作等优点。论文通过分析探测器的噪声组成,并经过实验数据分析,证明了影响探测器性能的主要因素是探测器晶体内电荷收集不完全,并为探测仪器设计时的成形时间选择提供了参考。


关键字: CdZnTe(CZT)探测器    噪声    能谱分析      


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