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2、计量单位 采用国家法定计量单...
基于 X荧光涂层厚度测量的试验研究
作者： 黄明 [1] ; 屈国普 [1] ; 赵越 [1] ; 黄亮 [2]
摘要：涂层厚度的控制至关重要，如果涂层厚度没有达到设计标准，对产品性能影响很大。利用实验室仪器搭建起一套涂层测厚试验平台，本试验中以铜、铁作为试验样品，用油漆作为涂层。利用射线穿过物质时的指数衰减规律I＝I0 e－μx ，用不同涂层厚度的标准样品进行标定以后，作出工作曲线；测量铜、铁两种基底上的涂层厚度，在涂层厚度介于0．01 g／cm2－0．06 g／cm2的范围内，相关系数分别为0．992和0．995，表明此测厚方法是可行的。
关键字： 涂层测厚 X荧光 反射法 工作曲线