利用 HPGe γ谱仪快速测量226 Ra
作者: 张轶名 [1] ; 於国兵 [2] ; 杜勤 [2] ; 闻德运 [2] ; 顾先宝 [2] ; 潘灵婧 [3]
摘要:HPGeγ谱分析中,一般通过测量222 Rn的子体来确定样品中226 Ra的含量,这种方法需要对样品密封数周后测量,无法实现样品中226 Ra含量的快速测量。文章分析了样品γ谱中186 keV全能峰的计数来源,对使用186 keV全能峰计算出的226 Ra的含量结果进行修正,得到较好的实验结果,实现了用186 keV全能峰快速测量样品中Ra的含量。
关键字: HPGeγ 谱分析 ^326Ra 快速测量