M onte Carlo 法在检测浮选矿物品位中的应用
作者: 李繁 [1,2] ; 刘锋英 [3] ; 林才寿 [4]
摘要:采用Monte Carlo法产生矿粉样品的XRF谱,对30个矿粉样品的品位进行了分析,结果表明该方法能够对浓度值为百分之几及其以上的元素进行有效分析。还对影响分析效果的各种因素进行了讨论,结果表明学习谱的个数越多,标准样品浓度分布范围越广,分析结果越精确可靠。此方法分析速度快,可以用于对矿物品位进行在线分析。
关键字: Monte Carlo法 X射线荧光分析 矿物品位 PLS法
上一篇:基于 FPGA 与 USB2.0的工业 CT 数据采集系统设计
下一篇:厚型气体倍增快中子探测器及γ射线抑制研究