粉末压片—WDXRF测定化探样品中主次痕量元素

作者： 王永强 [1] ; 彭秀红 [2,3] ; 谢杨 [2] ; 刘美美 [2] ; 王广西 [1] ; 李丹 [1] ; 翟娟 [1] ; 石慧 [1]

摘要：采用粉末压片法制取试样、X射线荧光光谱法测定化探样品中33种主、次、痕量元素（Al、As、Ba、Br、Ca、Ce、Co、Cr、Cu、Fe、Ga、Hf、K、Mg、Mn、Na、Nb、Nd、Ni、P、Pb、Rb、Sc、Si、Sr、Th、Ti、U、V、Y、Yb、Zn、Zr）。对各元素的测定条件、仪器参数进行了设置调整,选取了与试样基体相匹配的定值样品建立工作曲线,对曲线拟合进行了研究,用经验系数法和Compton散射线内标法相结合校正基体效应,提高了分析精度。经对标准物质的验证,分析结果与标定值吻合,方法的检出限和精度均满足分析要求,相对标准偏差（RSD,n=11）为0.1～10%,满足多目标地球化学调查样品分析的质量要求,可用于化探样品的常规分析。

关键字： X射线荧光光谱法    粉末压片    化探样品    元素测定      

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