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NaI晶体谱仪采集X射线能谱测量方法研究

作者: 张耀锋 [1] ; 郭彬 [2] ; 黄建微 [2] ; 李耀刚 [1] ; 王晓君 [1]

摘要:为准确测量轫致辐射X射线能谱,利用NaI晶体谱仪对于测量光子的能谱展宽效应,结合理论模拟分析,提出了采用变能量矩阵求解法实现X射线能谱的重建。该方法通过合理选择能量区间,可有效消除能谱响应矩阵中各矢量的相关性,从而实现能谱的准确重建。并分别以均匀能谱分布和实际轫致辐射X射线能谱为例,进行了X射线的能谱重建。获得结果与原始能谱的相关性约为0.98。


关键字: 轫致辐射    能谱测量    NaI晶体谱仪    变能量区间矩阵求解法      


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