国产无源效率刻度软件在HPGe γ谱仪上应用及评价
作者: 孙健 [1] ; 姜文华 [2] ; 王百荣 [1] ; 来永芳 [1] ; 郑启燕 [1]
摘要: 介绍了一款国产无源效率刻度软件的性能指标,以及用该软件对一套HPGe探测系统进行无源效率刻度应用情况。实验中,利用4个可溯源薄膜点源和2个可溯源的圆柱体体源对该探测系统进行有源效率刻度,并与使用国产无源效率刻度软件的刻度结果进行对比。比较发现,点源效率刻度上两者偏差为-0.08%-5.64%,体源效率刻度上两者偏差为3.95%-16.94%,均在可接受的范围内。实验表明:该软件用于HPGe探测系统进行效率刻度是可行的,可作为实验室γ能谱分析的辅助工具。
关键字: GC软件 无源效率刻度 评价 GC source-less efficiency calibration evaluation