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国产无源效率刻度软件在HPGe γ谱仪上应用及评价

作者: 孙健 [1] ; 姜文华 [2] ; 王百荣 [1] ; 来永芳 [1] ; 郑启燕 [1]

摘要: 介绍了一款国产无源效率刻度软件的性能指标,以及用该软件对一套HPGe探测系统进行无源效率刻度应用情况。实验中,利用4个可溯源薄膜点源和2个可溯源的圆柱体体源对该探测系统进行有源效率刻度,并与使用国产无源效率刻度软件的刻度结果进行对比。比较发现,点源效率刻度上两者偏差为-0.08%-5.64%,体源效率刻度上两者偏差为3.95%-16.94%,均在可接受的范围内。实验表明:该软件用于HPGe探测系统进行效率刻度是可行的,可作为实验室γ能谱分析的辅助工具。


关键字: GC软件     无源效率刻度     评价     GC     source-less   efficiency   calibration     evaluation       


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