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《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管,由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办,是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物,主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。 本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度,多年来一直...
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基于PCIE的CSNS高通量粉末衍射仪高速数据采集卡

作者: 胡俊 [1,2,3] ; 朱科军 [1,2] ; 江晓山 [1,2]

摘要: 简要介绍了用于中国散裂中子源高通量粉末衍射仪的高速数据采集系统,重点介绍了该系统中PCIE高速数据采集卡的设计。其中包括了数据采集卡的结构,各模块具体实现方式,电路设计和部分软件设计。最后给出了一些测试结果及应用。


关键字: 中国散裂中子源     PCIE     千兆网     光纤     DDR2     FPGA     CSNS     PCIE     1   000   M   Ethernet    


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