期刊简介
投稿须知
《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管，由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办，是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物，主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。
本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度，多年来一直...
X射线双组分质量厚度测量优化能量组合
作者： 陈敏聪 [1]
摘要： 介绍了用X射线等效能量法计算双组分物质质量厚度的方法,该方法在计算过程中采用单组分物质的等效质量衰减系数来替代双组分的等效质量衰减系数。通过射线吸收模拟实验,理论上计算了该方法的误差,结果表明在理论计算的双组分样品厚度范围内,该方法可以达到很好的精度,具备可行性。同时讨论了不同高压组合对质量厚度计算误差的影响。发现在固定一个高压的前提下,存在一个最佳低压,可以使质量厚度计算误差最小。
关键字： 双能 X射线 等效能量 质量厚度 最佳低压 dual energy X-ray equivalent ener
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