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《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管，由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办，是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物，主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。
本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度，多年来一直...
CdWO4、CsI（Tl）和PbWO4晶体在9MeV工业CT中探测效率比较
作者： 张爱东 [1] ; 李炬 [1] ; 孙灵霞 [1] ; 周瑛 [1]
摘要： 为找出更适合于9 MeV加速器工业CT系统应用的闪烁晶体,对常用的工业CT闪烁晶体CdWO4、CsI（Tl）、PbWO4在系统上进行了实验。利用CCD相机、准直器、闪烁晶体等组成探测系统,在同一实验条件下对截面积相同,长度为25 mm～45 mm的CsI（Tl）、CdWO4、PbWO4晶体在同一位置的探测计数进行反复测量,得到不同晶体长度对应探测计数图。实验结果表明：不同晶体材料探测效率不同,闪烁晶体在未包裹反光膜状态,35 mm长度CsI（Tl）探测效率最好,而在包裹反光膜状态下45 mm长度CdWO4探测效率最好。
关键字： 工业CT CDWO4 CsI(Tl) PbWO4 industrial CT CdWO4 CsI（Tl） Pb