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《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管,由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办,是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物,主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。 本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度,多年来一直...
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MCP通道对光子计数成像系统的影响

作者: 李梅 [1]

摘要: 介绍了光子计数成像系统的结构、工作原理和工作平台。实验中,为了防止粒子反馈到输入端及得到更高的电子倍增,微通道板(MCP)的通道一般会倾斜6°~8°。然而,这种倾斜会引起图像偏移,影响图像精确度,为了获得清晰的图像,采取了一些措施纠正偏移,主要通过修正电子云质心的偏移,提高图像的质量。


关键字: 光子计数成像系统     MCP     偏移量     Single   photon   counting   imaging   system     MCP     replacement       


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