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《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管,由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办,是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物,主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。 本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度,多年来一直...
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射线检测不清晰度评估方法的数值模拟分析

作者: 孙朝明

摘要: 不清晰度是评价射线检测图像质量的一个重要指标,尤其是对于数字射线检测技术而言;在射线检测实际应用中,不清晰度值通常用双线型像质计来测量,但现行技术标准所规定的测量方法还有待进一步明确或完善。为探究双线型像质计的使用原理、双线型像质计影像与不清晰度间的关联,构建了双线型像质计与刀口工具的射线成像模型,利用数值模拟方法获取了特定射线源特性、透照布置所对应的两种测试工具的响应,然后进行了不清晰度的测量与对比分析。结果表明,由于射线源焦点强度分布的不同,特定不清晰度值下双线型像质计影像的可识别程度会有所不同,但基本上可使用双线型像质计响应曲线的20%调制度作为分限能力的定量判据。


关键字: 不清晰度     数值模拟     双线型像质计     调制度     Unsharpness     Numerical   simulation     Du   


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