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《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管，由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办，是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物，主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。
本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度，多年来一直...
高速电路设计中过孔对信号完整性影响的研究
作者： 胡佳栋 [1,2] ; 李诚 [1,2] ; 曹喆 [1,2] ; 刘树彬 [1] ; 安琪 [1]
摘要： 随着信号的频率越来越高，高速电路设计中过孔对信号完整性的影响越来越不可忽视，实测带过孔的PCB走线的S参数发现过孔对系统信号完整性有比较大的影响。通过ANSYS仿真软件及理论计算对此进行了研究，发现过孔对信号完整性的影响主要源于两方面：过孔的寄生参数和内电层平面的谐振。减少信号走线中过孔的使用、调整过孔的位置以及消除谐振能有效改进高速电路的信号完整性。论文通过ANSYS仿真以及PCB实测验证了这些方法的有效性。该结论对高速电路设计有参考意义。
关键字： PCB过孔 内电层谐振 高速电路设计 信号完整性 PCB via resonance frequency h
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