期刊简介
投稿须知
《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管,由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办,是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物,主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。 本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度,多年来一直...
当前位置:首页 > 期刊导读 > 2016 > 06 > 正文

HLSII储存环逐束团流强测量系统研制

作者: 刘传生 ; 周泽然 ; 孙葆根 ; 罗箐 ; 程超才

摘要: 为进一步提升HLSII储存环光源的性能以及为未来实现top—off注入打下基础,研制了新的逐束团流强测量系统。系统硬件部分主要由ADC、FPGA和USB构成,采样精度高、架构简单、成本低。由于BPM和信号的峰值含有束团流强信息,该系统利用峰值采样法测流强。在线测试结果表明,柬流的纵向振荡对测量精度有较大影响,在开启纵向反馈抑制住纵向振荡时,该系统测量逐束团流强的精度较高,单束团流强的均方根误差值可达0.002mA;关闭纵向反馈时,测量精度变差。该系统除了测量逐束团流强外,还实现了纵向工作点的测量,未来还可以测量逐束团寿命等,为合肥光源储存环性能提升,提供更多的束流诊断手段。


关键字: 合肥光源     储存环     逐束团流强     高速ADC     EPICS     Hefei   light   source     bunch   -   by   


上一篇:利用MCNPX模拟中子多重性脉冲序列采集
下一篇:声明:本网电子邮箱被不法分子盗用,收取审稿费或版面费