期刊简介
投稿须知
《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管,由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办,是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物,主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。 本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度,多年来一直...
当前位置:首页 > 期刊导读 > 2016 > 08 > 正文

单光电子谱测试中触发方式对比研究

作者: 张海琼 钱森 王志民 夏经凯 高峰    核探测与核电子国家重点实验室 北京100049 中国科学院高能物理研究所 北京100049 中国科学院大学 北京100049

摘要:光电倍增管(PMT)单光电子谱测试中触发方式的对比研究对PMT性能刻度具有很强的指导意义。通过搭建自触发、同步触发、异步触发三套测试系统,对比研究不同触发方式对PMT性能刻度的影响。实验结果表明:自触发只可用于初步性能刻度;而异步触发在信号触发频率小于触发门采样频率时,得到多光电子谱,刻度结果远偏离实际值;同步触发方式能更可靠地刻度出更多更精确的PMT参数,是PMT性能刻度的最佳触发方式。


关键字: 光电倍增管    单光电子谱    自触发    同步触发    异步触发   


上一篇:Shashlyk电磁量能器反光层性能研究
下一篇:基于C#反应堆数据监测与分析软件设计