^252Cf中子源辐照钚部件安全性评估
作者: 李虹轶 郭春营 林源根 宋天莉 许伟 北京市清河大楼子六 北京100094
摘要:在分析^252Cf中子源辐照钚部件产热机理基础上,应用MC法计算了钚部件裂变热功率以及^252Cf源γ射线能量沉积热功率;建立理论模型,计算了钚部件冷却过程中衰变热。相比自发衰变热功率,典型中子源强照射下钚部件的热效应并不严重。利用缓发γ能谱近似模型,计算了拟人体外照射剂量。与国际放射防护委员会(ICRP)建议值相比,典型中子源强照射下操作人员接受的辐射剂量在安全范围内。
关键字: ^252Cf中子源 诱发裂变 衰变热 有效剂量 安全性