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《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管,由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办,是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物,主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。 本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度,多年来一直...
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^252Cf中子源辐照钚部件安全性评估

作者: 李虹轶 郭春营 林源根 宋天莉 许伟    北京市清河大楼子六 北京100094

摘要:在分析^252Cf中子源辐照钚部件产热机理基础上,应用MC法计算了钚部件裂变热功率以及^252Cf源γ射线能量沉积热功率;建立理论模型,计算了钚部件冷却过程中衰变热。相比自发衰变热功率,典型中子源强照射下钚部件的热效应并不严重。利用缓发γ能谱近似模型,计算了拟人体外照射剂量。与国际放射防护委员会(ICRP)建议值相比,典型中子源强照射下操作人员接受的辐射剂量在安全范围内。


关键字: ^252Cf中子源    诱发裂变    衰变热    有效剂量    安全性   


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