期刊简介
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《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管，由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办，是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物，主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。
本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度，多年来一直...
滤光片对透射式微型X光管谱线影响的MC数值模拟分析
作者： 李秋实 魏周政 程鹏亮 赵剑锟 杨镜明 核工业二一六大队 新疆乌鲁木齐830011 核与辐射安全管理中心 贵州铜仁554300 成都理工大学核技术与自动化工程学院 四川成都610059
摘要：现场X射线荧光分析（EDXRF）中,使用滤光片可以有效的降低或消除由原级谱在样品中散射背景,特征谱对待测元素的干扰。论文采用MCNP5程序模拟了加不同厚度Al、Cu、Ag、Kapton滤光片前后的原级谱分布。依据模拟结果,原级X射线谱的谱分布与滤光片的材质和厚度有关。能量低于5ke V的射线对分析是无用的。在能量5~10 ke V的能量谱段,选择Al滤光片较为合适;在能量10~25ke V谱段范围,Ag滤光片相对于另外三种滤光片较为合适。从而为现场X荧光分析仪的研制提供技术支撑。
关键字： 微型X射线管 现场X射线荧光分析 滤光片 MCNP5
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