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《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管，由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办，是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物，主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。
本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度，多年来一直...
GAGG：Ce探测器与NaI：TI探测器性能比较
作者： 程翀 王益元 许浒 周军 郭智荣 屈国普 刘翎箭 武汉第二船舶研究设计所 武汉430064 南华大学核科学与技术学院 湖南衡阳421001
摘要：研究了封装反射层材料对GAGG：Ce探测器光收集的影响,同时与Na I（TI）闪烁体探测器进行了详细的对比性实验,用137Cs、60Co标准源测量了γ能谱,对GAGG：Ce与Na I（TI）闪烁体探测器的温漂、能量线性及能量分辨率等性能指标重点进行了讨论。结果表明：GAGG：Ce探测器随温度漂移变化程度较大;能量线性好,线性相关度r为0.9999;对662 ke V的γ射线能量分辨率为7.8~8.0%。
关键字： GAGG:Ce探测器 NaI(TI)探测器 封装技术 温度响应 线性 能量分辨率
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