片上存储器单粒子翻转效应诊断及修复
作者: 杨卫涛 贺朝会 杜雪成 申帅帅
摘要:研究了Zynq-7000片上存储器(OCM)的单粒子翻转效应(SEU),进行了SEU的诊断设计,可以及时诊断出OCM中发生SEU的具体位置以及具体数据位,能够实现对发生于OCM中的单位翻转和多位翻转诊断;进行了SEU修复的设计,可以准确地修复OCM中发生的SEU.能够利用较少的空间资源占用和运行时间实现OCM中SEU百分之百的诊断和修复.
关键字: Zynq-7000 片上存储器 单粒子翻转效应
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