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《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管,由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办,是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物,主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。 本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度,多年来一直...
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Welch法估计半导体核辐射探测器1/f噪声参数

作者: 李懋 刘国福 季利锋 郭子成

摘要:介绍了1/f噪声的基本特征以及周期图法与Welch法的基本原理.设计并搭建了基于嵌入式开发平台的噪声仿真测试系统,通过实验分析了数据段间重叠度对参数估计的影响,并比较了Welch法与周期图法的估计性能.结果表明:基于Welch谱估计的1/f噪声参数估计方法性能更好,更适用于白噪声背景下的1/f噪声参数估计.


关键字: 1   f噪声 半导体器件 核辐射探测器 Welch谱估计                                                                                                                


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