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《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管，由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办，是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物，主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。
本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度，多年来一直...
MC法模拟计算X射线质量衰减系数
作者： 李亚芬 [1] 张锋 [2] 田立立 [1] 吴赫 [1] 陈前 [1]
摘要：利用MC法模拟X射线透射计算出不同矿物的质量衰减系数,并模拟计算出不同岩石样品的质量衰减系数进而确定矿物含量.利用MC建立单矿物X射线透射计算模型,模拟计算了不同矿物的质量衰减系数,并与利用XCOM程序计算得到的理论值进行对比,表明可利用MC法模拟X射线透射来计算质量衰减系数.利用MC法得到岩石样品的总质量衰减系数,进而计算出矿物含量,且与实际矿物含量的绝对误差值较小,即可以利用质量衰减系数来确定岩石样品中的矿物含量.
关键字： X射线 质量衰减系数 矿物含量 MC法
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