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《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管,由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办,是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物,主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。 本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度,多年来一直...
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样品颗粒度对X射线荧光强度影响模拟方法研究

作者: 刘旭 黑东炜 霍艳坤 魏福利 马戈 夏惊涛 罗剑辉 唐波 张德志

摘要:通过MCNP软件建立均匀颗粒的面心立方最密堆积模型,以硫酸铜-锌组合样品为例,研究样品在X射线激发下的荧光强度随颗粒大小的变化情况.采用研磨方法制备不同颗粒度的无限厚样品并进行实验,以验证建模方法的正确性;在此基础上研究颗粒度效应对有限质量厚度样品荧光强度的影响.结果表明,自然状态的无限厚硫酸铜颗粒样品的荧光强度随颗粒尺寸增加而下降,变化程度小于统计涨落,与相同条件下的模拟结果基本一致;在质量厚度相同的情况下,样品颗粒尺寸增大,铜-锌荧光强度之比减小.


关键字: 荧光分析 参考元素 颗粒度 MCNP                                                                                                                


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