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《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管,由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办,是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物,主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。 本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度,多年来一直...
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厚型气体电子倍增探测器(THGEM)在15~70 keV X射线测量中的应用

作者: 阎明洋 [1] 黄文谦 [2] 张帅 [3] 马忠剑 [1] 吴金杰 [3] 谢一冈 [4]

摘要:本文采用了自主研发的THGEM探测器,其具有双膜结构,64路直流读出电子学等特点.采用该THGEM探测器在K荧光装置上,开展了对15~70 keV内多能量点X射线的探测实验工作;结果显示该THGEM探测器对宽能区、高注量(剂量当量)的X射线具有良好线性响应,并分析了影响探测效率的因素.


关键字: THGEM 直流读出电子学 X射线                                                                                                                


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