期刊简介
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《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管，由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办，是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物，主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。
本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度，多年来一直...
XRF分析中近距离探测X射线荧光强度计算修正方法
作者： 刘旭 黑东炜 马戈 魏福利 罗剑辉 夏惊涛 唐波
摘要：针对圆形探测面的半导体探测器,采用解析几何和角度积分的方法,对采用基本参数荧光强度表达式计算材料荧光绝对计数的方法进行了改进,获得了荧光绝对计数随样品厚度变化的曲线.实验测量不同厚度的铜箔的荧光计数与理论计算结果的相对偏差在6.21%以内,理论曲线与实验数据趋势相符,理论计算荧光绝对强度曲线在基于荧光绝对测量方法的厚度测量中具有一定的应用价值.
关键字： 荧光分析 绝对测量 立体角 数值计算
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