微型X射线管最佳入射角及Be窗厚度的MC模拟

作者： 黄凯 [1] 刘良柱 [2] 颜瑜成 [3] 徐志勇 [2] 钟丁生 [1]

摘要：利用MC法针对50 keV电子束面源、2μm银靶、250μm铍窗的微型X射线管进行模拟研究,讨论电子入射角对微型透射式X射线管的出射谱线及各项评价指标的影响.结果表明,电子的最佳入射角在40°左右;并在最佳电子入射角的情况下,确定Be窗最优厚度为500μm.与传统的X射线管相比,在调节电子入射角、优化Be窗厚度后的X射线管的出射谱线中,中低能的X射线总计数的减少比例高于高能部分,减小了对待测元素的特征X射线的干扰,增加了原级特征X射线在中高能轫致辐射的相对比重,提高了EDXRF分析的精度与准确性.

关键字： 微型X射线管 电子入射角 射束硬化 MC模拟                                                                                                                

上一篇： 核信号高斯与梯形数字成形方法仿真及其评价
下一篇： 核事故放射性气体扩散及辐射剂量模拟研究