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《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管，由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办，是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物，主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。
本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度，多年来一直...
LaBr3:Ce探测器对低能γ射线角响应研究
作者： 徐国庆 [1] 李永明 [2] 张宏俊 [2] 熊忠华 [2]
摘要：建立以探测器前表面中心和探测器体心为参考原点的两种几何模型,研究了Saint-Gobain Brillan Ce380探测器对241 Am、133 Ba、137 Cs源γ射线在15 cm、25 cm、35 cm处由0～90°范围内入射能量沉积脉冲高度谱,通过源峰探测效率的差异表征角响应的变化.实验结果表明:该探测器对低能γ射线响应随入射角度的增大呈递减趋势,源峰探测效率最大变化约达30％,并随源距离的增加各向异性程度逐渐减弱.此结果可为LaBr3:Ce探测器检测未知核材料及其剂量水平提供修正参考.
关键字： LaBr3:Ce探测器 探测效率 角响应 MC模拟