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《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管，由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办，是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物，主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。
本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度，多年来一直...
中能治疗水平X射线机发射率常数测定及MC模拟
作者：刘哲 吴金杰 曾国强 赵瑞 王继 李云飞
摘要：为研究标准CCRI辐射质下发射率常数的量值以及变化规律,建立了中能治疗水平X射线辐射场,通过自由空气电离室测量空气比释动能率并计算X射线机发射率常数量值。用MC模拟方法模拟出X射线能谱并求得粒子的平均能量。结果表明:治疗水平X射线机发射率常数随电子能量增大而增大,趋势趋于平缓并给出了标准CCRI辐射质下量值;用EGSnrc软件模拟标准CCRI辐射质下X射线能谱,附加过滤阻挡吸收低能粒子会使得能谱向右偏移,粒子数减少但平均能量变大。
关键字：发射率常数; CCRI辐射质; 空气比释动能; 能谱模拟;
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