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《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管,由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办,是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物,主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。 本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度,多年来一直...
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Mo/Cu TES超导性能表征

作者:张宏俊 文继 莫钊洪 王新明 熊忠华 帅茂兵

摘要:为了制备满足超高分辨率射线探测要求的超导转变边界探测器,对制备的Mo薄膜和Mo/Cu薄膜表征了其超导电学特性。结果表明,制备的Mo薄膜具有较好的超导性能,Mo/Cu薄膜的ΔT达到了2.1 mK@352 mK,α值达到了335。在1 mA的电流下,该α值可以满足超高分辨射线探测的要求。 


关键字:超高分辨率;   γ射线探测;   超导薄膜;   转变边界探测器;   


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