期刊简介
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《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管，由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办，是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物，主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。
本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度，多年来一直...
Tikhonov正则化法反解计算γ多层屏蔽厚度
作者：陈颖 杨苏 王志慧 张连平 肖洒 何伟波
摘要：基于Tikhonov正则化法,以单层、双层以及三层屏蔽的152Eu点源为例,对γ多层屏蔽材料厚度进行了反解研究。结果表明:Tikhonov正则化法能够给出比最小二乘法更稳定且可靠的计算结果。相对于线性吸收系数的计算与测量值的偏差,γ特征谱线的选取是影响反解结果的主要因素。
关键字：γ能谱; 多层屏蔽; Tikhonov正则化; 反解计算;