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《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管，由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办，是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物，主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。
本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度，多年来一直...
γ谱法无损测定高浓铀材料中放射性杂质含量
作者：张宏俊 文继 任忠国 熊忠华 赵德山 帅茂兵
摘要：介绍了γ谱法无损测定高浓铀材料屮放射性杂质的分析方法。该方法使用便携式高纯锗γ能谱仪测量高浓铀材料的7能谱,结合放射性衰变平衡理论计算,获得了高浓铀材料中铀同位素袞变子体的质量百分含量。实验结果表明:对于存放30 a的高浓铀材料,可检测出234U、235U和238U衰变产生的19种放射性子体,可测量质最百分含量低至10-17%的某些放射性子体。该方法测量结果与理论值能较好吻合,可用于高浓铀材料溯源分析研究。
关键字：铀衰变子体含量 γ谱法 无损分析 核保障
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