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《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管,由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办,是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物,主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。 本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度,多年来一直...
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几何条件对反康普顿γ谱仪测量影响研究

作者:任琦颀 於国兵 顾先宝 杜勤 何旭 陈志

摘要:为研究实际样品所处几何位置与样品的几何形状对反康普顿γ谱仪的测量影响,通过改变源与探测器的位置和源自身的几何形状来测试一套反康普顿γ谱仪系统的康普顿抑制效果。主探测器与塞探测器贴近源时,峰康比(P/C)与康普顿抑制系数(CSF)可达最大值;相同直径的体源,高度越小,其P/C与CSF越小;相同高度的体源,直径越小,其P/C与CSF越小。在测试的40K体源系列中,φ30 mm×15 mm的体源具有最大的P/C和CSF值。改变样品的测量位置,优化样品的几何形状,能够在一定程度上获得更好的康普顿抑制效果。


关键字:反康普顿HPGEΓ谱仪   峰康比   康普顿抑制系数   40K   137Cs   


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