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《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管,由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办,是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物,主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。 本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度,多年来一直...
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小面积表面污染测量方法研究

作者:唐煜 王鑫 王叶 史云剑 周云

摘要:从核索种类、发射率数量级、活性区面积变化对表面污染测量仪发射率响应的影响进行了研究,结果表明不能直接使用检定证书上给出的校准因子对所有测量结果进行校准,必须在测量前制作对应的校准系数表。通过巡测和精确测量确定污染区域边界,算出污染区域面积。对比污染区域与探测器窗面积大小关系和污染区域均匀性,确定采用单次测量或多次多点测量,选取对应公式计算出污染区域的表面发射率或表面活度。


关键字:电离辐射   表面污染   放射性沾污   α、β表面发射率   α、β表面活度   


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