期刊简介
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《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管，由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办，是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物，主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。
本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度，多年来一直...
X射线背散射透射一体成像系统设计
作者： 张炜 [1,2] ; 王国宝 [1] ; 王强 [1]
摘要： 介绍了X射线检测技术在安检领域的应用情况,讨论了背散射成像系统组成结构。提出2种可经过一次扫描获得背散射图像与透射图像的一体机模型,并且搭建了相应的实验平台,完成了透射和背散射成像获取实验。特别是在双源结构平台上对藏匿在箱包中的TNT、硝酸铵爆炸物与水作为检材的透射、背散射图像内容做了对比说明;分析了单源并联一体机透射图像分辨率低的问题,为进一步改进背散射透射一体机图像信号噪声比和图像分辨率指出解决方法。
关键字： 康普顿效应 背散射 一体机 辐射成像 违禁物检测 Compton Effect backscatter