期刊简介
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《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管，由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办，是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物，主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。
本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度，多年来一直...
CCD探测器的相对探测效率标定
作者： 刘晓艳 [1] ; 杨彦佶 [1] ; 朱玥 [1] ; 常治 [1] ; 肖君 [3,4] ; 陆景彬 [2] ; 王于仨 [1] ; 崔苇苇 [1] ; 姚科 [3,4] ; 傅云清 [3,4] ; 陈田祥 [1] ; 王娟 [1] ; 霍嘉 [1] ; 韩大炜 [1] ; 李炜 [1] ; 胡渭 [1] ; 李茂顺 [1] ; 陆波 [1] ; 张艺 [1] ; 张子良 [1] ; 薛荣峰 [1,2] ; 刘苗 [
摘要： 探测器的探测效率是表征探测器性能的一个重要参数,需对其进行标定。本次试验使用复旦大学EBIT设备,以其配有的高纯锗探测器为标准,对低能X射线望远镜的CCD探测器进行探测效率的相对标定,得到在6.7、8.3、9.1、9.7、10.4、11.9和13.3 keV七个能量点CCD探测器相对于高纯锗探测器的探测效率。其讨论使用的标定方法对今后的探测效率标定工作具有意义。
关键字： CCD探测器 相对探测效率 EBIT TL 816+ 1 CCD detector relative detection efficiency EBIT