期刊简介
投稿须知
《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管，由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办，是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物，主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。
本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度，多年来一直...
高纯锗谱仪探测效率的实验刻度与MC模拟
作者： 关伟 ; 白万春 ; 杨静
摘要： 利用低本底高纯锗谱仪测量了标准源（（133）Ba、（137）Cs和（60）Co）的各特征γ射线,得到了各特征能量下的探测效率,并通过拟合给出了高能端的探测效率曲线。同时,利用MC模拟工具包Geant4,模拟了各单能γ射线在高纯锗探测器组件中的输运过程,得到了不同能量下的模拟探测效率。比对结果发现：实验值与模拟值能很好地符合,可为开展相关产品的设计和制造提供参考。
关键字： 高纯锗探测器 探测效率 Geant4 MC方法 HPGe-spectrometer efficiency Geant4 M