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《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管，由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办，是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物，主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。
本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度，多年来一直...
含水二氧化硅介质14MeV中子慢化长度与中子迁移长度模拟计算
作者： 杨国召 ; 张国光 ; 张帅 ; 赵潇 ; 苏丹 ; 丰树强
摘要： 基于MCNP程序模拟计算了不同孔隙度二氧化硅介质地层14 MeV中子慢化长度与中子迁移长度。首先，模拟计算了241Am—Be中子源条件下不同孔隙度SiO2介质地层的中子通量空间分布，并利用源距均方值公式计算得到了对应的中子慢化长度L5和中子迁移长度LM与文献结果对比：中子特征长度Ls与Lm结果相对误差均值分别为1．20％与-2．60％；该结果验证了源距均方值公式计算中子特征长度的有效性和可行性。同样地，计算得到了不同孔隙度SiO2介质地层14MeV中子的中子特征长度Ls和LM;计算结果表明：14MeV中子的中子特征长度同样随地层孔隙度的增加而降低；其中水的14MeV中子特征长度为Ls=12．73cm、LM=13．00cm，Si02的14MeV中子特征长度为Ls=30．08cm、LM，=34．31cm；中子慢化长度厶结果与文献结果的相对偏差≤±3．1％。
关键字： 二氧化硅 源距均方值公式 中子慢化长度 中子迁移长度 Quartz Mean Square Spac
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