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《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管，由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办，是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物，主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。
本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度，多年来一直...
HPGe探测器能量刻度及探测效率模拟
作者： 张帅 [1,2] ; 吴金杰 [2] ; 吴冲 [1] ; 陈成 [2,4] ; 王佳 [2,3]
摘要： X光机绝对光子数的测量在X射线计量中有着十分重要的意义，对其进行测量时需先将探测器的能量一道址函数进行刻度。本文使用放射源对HPGe探测器进行能量刻度，得到其能量一道址函数且其线性相关系数R^2=0．99984。论文结合了CT成像技术，对探测器进行平行光束探测效率的MC模拟，使建模更精确。模拟结果显示，探测效率曲线在11．0keV处会出现吸收边，是因为Ge元素被激发产生Kα、Kβ特征X射线发生逃逸，未被记录下来形成逃逸峰所致，这与实际实验情况相符。
关键字： HPGe探测器 X射线计量 MC模拟 HPGe detector X - ray metrology MC simulation
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