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《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管,由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办,是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物,主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。 本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度,多年来一直...
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康普顿背散射探测的边缘效应研究

作者: 沈天明 ; 陈嘉敏

摘要: 康普顿背散射探测的边缘效应反映不同材质属性,为探测爆炸物、毒品等违禁品提供新思路。通过蒙特卡罗仿真与实验验证的方法,分析边缘效应与材质密度厚度等因素的关系,动态的理解背散射探测的特点。


关键字: 康普顿背散射     边缘效应     蒙特卡罗仿真     Compton   backscatter     edge   effect     Monte   


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