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《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管,由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办,是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物,主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。 本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度,多年来一直...
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双投影法识别客体形状及其物性

作者: 赵曦 ; 李立涛 ; 向新程 ; 丛鹏 ; 王振涛

摘要: 针对目前单投影检测系统存在的不足,提出了数字辐射图像处理的双投影检测法。该方法根据双投影系统所得灰度曲线的特点,通过分析曲线上拐点的位置及其灰度值,将双透射投影视图数据相互结合计算,得出待测物体的位置、形状、密度、物性等特征信息。另外,通过仿真实验证明该方法的可行性,并对此处理方法的精度、误差来源等进行分析。该系统及辐射图像的处理方法将有效改善目前实际测量系统检测能力不足的问题,可显著提高检测的准确度及效率。


关键字: 双投影检测     辐射图像     物性分析     dual   -   projection   detection     radiation   image   


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