期刊简介
投稿须知
《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管,由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办,是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物,主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。 本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度,多年来一直...
当前位置:首页 > 期刊导读 > 2015 > 12 > 正文

射线能量对高压充气电离室探测器饱和特性的影响

作者: 邢桂来 [1] ; 王立强 [2] ; 王振涛 [1]

摘要: 通过实验测量一种高压充气电离室探测器在241Am、137Cs及X光机(管压200 kV)下的饱和特性,分析不同能量下饱和特性的规律,阐述探测器结构对饱和特性的影响.为充气电离室探测器设计以及探测器实际使用中工作电压的选择提供参考.


关键字: 电离室     饱和特性     射线能量     ionization   chamber     saturation   characteristic     ray   energy       


上一篇:塑闪阵列探测器地面标定触发电路设计
下一篇:X-γ剂量率宽量程监测仪的单片机系统设计