射线能量对高压充气电离室探测器饱和特性的影响
作者: 邢桂来 [1] ; 王立强 [2] ; 王振涛 [1]
摘要: 通过实验测量一种高压充气电离室探测器在241Am、137Cs及X光机(管压200 kV)下的饱和特性,分析不同能量下饱和特性的规律,阐述探测器结构对饱和特性的影响.为充气电离室探测器设计以及探测器实际使用中工作电压的选择提供参考.
关键字: 电离室 饱和特性 射线能量 ionization chamber saturation characteristic ray energy