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《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管,由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办,是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物,主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。 本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度,多年来一直...
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NAND型FLASH在高速多通道采集存储系统中的应用

作者: 董刚刚 [1] ; 王文廉 [1] ; 张志杰 [1]

摘要: 设计了一种基于PIC单片机和CPLD(复杂可编程逻辑器件)共同控制、FLASH MEMORY(闪速大容量存储器)存储的新型存储测试系统。设计方案实现了在采样速率变化的情况下,FIFO自适应地完成缓存速率调整的功能,并且多通道数据能连续不间断地存储到FLASH存储器中。采用了一种新的对FLASH无效块检测的方法,延长了系统的使用时间。实验结果表明,电路能够准确有效地进行A/D数据采集。


关键字: FLASH     存储测试     CPLD     单片机     高速采集     FLASH     Synchronous   acquisition     CPLD       


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