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《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管,由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办,是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物,主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。 本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度,多年来一直...
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SRAM单粒子效应监测平台的设计

作者: 高山山 [1,2] ; 苏弘 [1] ; 孔洁 [1,2] ; 千奕 [1] ; 童腾 [1,2] ; 张战刚 [1,2] ; 刘杰 [1] ; 侯明东 [1] ; 孙友梅 [1]

摘要: SRAM单粒子效应监测平台用于兰州重离子加速器(HIRFL)辐照终端开展单粒子效应实验,采用"承载子板—主控制板—上位机"结构。简要分析了SRAM单粒子效应产生机理,详细描述了该平台的硬件系统、软件系统和性能指标。重离子辐照实验中,该平台多次检测到IDT71256发生单粒子翻转和单粒子闩锁,实验结果与理论分析的结论基本一致。


关键字: SRAM     单粒子翻转     单粒子闩锁     重离子     SRAM     Single   event   upset(SEU)     Single   


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